NGUYEN , V. M. T.; NGUYEN , V. T.; TUREK, M. .; DROZDZIEL, A. .; PYSZNIAK, K. .; ORLOV, O. S. .; SIDORIN, A. A. .; NGUYEN, L. L. .; PHAM , T. H.; NGUYEN , T. N. H.; TRAN , V. P.; HOANG , V. L.; LE , T. L.; TRAN , D. P.; DONKOV, A. A. .; POPOV, E. P. .; SAMADOV, S. F. .; MIRZAYEV, M. .; NGUYEN , Q. H.; LUU , A. T. Preliminary analysis of structural defects in thin BiVO4 layer using the slow-positron-beam based facilities at JINR, Dubna. Nuclear Science and Technology, [S. l.], v. 14, n. 3, p. 41-50, 2026. DOI: 10.53747/nst.v14i3.470. Disponível em: http://old.vinatom.gov.vn/index.php/nst/article/view/419. Acesso em: 22 may. 2026.